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  • 20242-28
    布鲁克三维X射线显微镜(Bruker 3D XRM)在考古纺织品研究中的应用

    对于考古纺织品结构和材料的研究通常很复杂,并且由于样品容易受到沉积后的影响,如污垢和腐烂,这可能使研究人员的工作变得更加费力和麻烦。在考古学的相关研究中,侵入式的研究方法是不可取的,因为发掘出来的大多数物品都是稀缺的,保存这些物品至关重要,尤其是考古纺织品,很容易破损,而且其外部通常覆盖着硬化的泥土或粘土,无法去除。这时,使用μCT或3DXRM这种能够提供微米尺度的无损成像技术将很好地帮助我们通过横截面或3D可视化来研究这些易碎物品并且不会损坏它们,以达到样品重复利用研究的目...

  • 20242-28
    应用分享 | 电阻率测试对碳化硅半导体的意义

    随着全球对能源需求的不断增加,特别是在电动或混合动力汽车和可再生能源管理这些领域,人们越来越注重以较低的电力消耗为目标,因此能在高频、高温、高压环境下工作的第三代半导体材料碳化硅(SiC)逐渐受到了广泛的关注。目前碳化硅产业已成为全球范围内一个新兴的高技术行业,涵盖了材料、器件、模块以及应用等多个方面的产业链。然而,在生产和制备过程中应怎样确保SiC的稳定性和工作效率呢?较基础、高效的方式就是准确测量它们的电阻率或电导率。按照掺杂后SiC的电阻率来分类,碳化硅衬底主要有导通型...

  • 20242-25
    XRD在药物研究中的应用系列之-总览篇

    X射线衍射技术在药物分析中有着广泛的应用。X射线衍射技术是一种用于研究物质结构的分析方法,它通过测量X射线在晶体中的衍射角度,来确定晶体的结构。这种技术在药物分析中具有很多应用。自药典和法规对涉及药物晶型研究相关的问题时,X射线衍射技术在药物分析中的应用开始增加,为药物研发、生产和质量控制提供重要的技术支持。常见的有下面几种。药物API晶型分析药物杂质分析(碱式碳酸镧杂质定量)结晶度分析原位分析在药物成分鉴定、药物合成监测、药物制剂分析、药物与生物分子相互作用研究、药物溶解度...

  • 20242-21
    少子寿命测试仪应用分享|缺陷浓度测定

    许多寿命测量方法,如QSSPC、μPCD或CDI,以及MDP在极低的注入浓度下都存在异常高的测量寿命。这种效应是由于样品中的捕获中心造成的。这些捕获中心对于了解材料中载流子的行为非常重要,并且也会对太阳能电池产生影响。因此,需要以高分辨率来测量缺陷密度和这些缺陷中心的活化能。借助MDPmap和MDPingot,可以通过一次测量来测量光电导率以及少数载流子寿命,并在宽注入范围内实现全自动测量。巧妙的算法可以确定样品中的缺陷浓度。根据注入相关寿命曲线,可以确定低注入下的寿命τLL...

  • 20241-19
    XRM应用分享 | 锂电新能源

    锂离子电池,由于其具有高能量密度和体积能量密度,循环寿命长,无记忆效应等优点,越来越受到市场和消费者的青睐,这也推动了锂离子电池的快速发展和针对其研究的不断深入。XRM凭借着其能在无损情况下表征样品真实三维结构的特点,在近些年逐渐成为锂电池研究中的重要表征手段之一,且应用范围也在不断扩展。实例一软包电池多尺度表征BrukerSkyscan2214样品整体扫描,11um局部高分辨扫描,正极,1um局部高分辨扫描,隔膜,0.15um电池正极颗粒粒径分布(左图)及孔径分布(右图)实...

  • 20241-19
    SC-XRD应用分享 | 粉末X射线衍射(PXRD)在药物晶型研究中的应用

    药物大部分以晶体的形式存在,利用X射线衍射,我们可以获得每种不同的晶型的药物特征的衍射信息。如同指纹一样,在数据库中每种晶型都有特征的衍射图谱。即使对于含有多成分的固体制剂而言,其中原料药与辅料各自对应的粉末X射线衍射图谱不会发生变化,可作为药物晶型定性判断的依据。因而对于未知的药物样品,通过PXRD,我们可以很快通过比对实测图中的衍射峰的位置,强度,从已有数据库中查到原料药的晶体结构相匹配的衍射图谱,从而准确鉴定该药物的晶型。PXRD对于药物晶型的定性研究主要分为两个方面:...

  • 20241-19
    XRD应用分享 | X射线全散射对分布函数方法分析结晶/非晶无机材料局域结构

    局域结构是指构成材料的原子或离子在几个晶胞尺度范围内(具体来说,使用X射线等探针对目标样品进行散射实验后,获得的信号强度I随Q的分布函数I(Q)(Q=4πsinθ/λ)中同时包含了相干散射、非相干散射以及背景信号,扣除背景后按照下式进行处理从而获得全散射函数S(Q):而后,对S(Q)-1以Q为权重处理后(即Q[S(Q)-1],也被称作F(Q)),再进行傅里叶变换,即可得到对分布函数G(r):对于不同结构的材料,其原子对的分布规律也各不相同,图1展示了立方堆积和六方堆积的G(r...

  • 20241-19
    AES俄歇电子能谱专辑之原理篇

    1925年PierreAuger在威尔逊云室中发现了俄歇电子,并进行了理论解释,俄歇电子以他的名字命名。1953年,JamesJosephLander使用了电子束激发俄歇电子能谱,并探讨了俄歇效应应用于表面分析的可能性。1967年LarryHarris提出了微分处理来增强AES谱图信号。美国明尼苏达大学的RolandWeber,PaulPalmberg和他们的导师BillPeria进行的研究揭示了俄歇电子能谱的表面灵敏特性,研制了早期商用俄歇表面分析仪器(如图1所示),并基于...

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