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PRODUCTS CENTER当前位置:首页产品中心半导体专用检测仪器设备XRDFreiberg-Omega/Theta XRDOmega/Theta XRD- 摇摆曲线测量
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PRODUCT CLASSIFICATIONOmega/Theta XRD- 摇摆曲线测量意味着在Theta-scan模式下进行测量,这需要一个测角仪。一个双晶体被带入主光束路径,以减少光谱宽度和发散度。然而,其副作用是强烈的强度降低。
晶体反射的摇摆曲线表示晶格的质量。这可以点下来进行快速检查,也可以与Mapping工具结合起来,得到一个质量图。
测量摇摆曲线意味着在Theta-scan模式下进行测量,这需要一个测角仪。一个双晶体被带入主光束路径,以减少光谱宽度和发散度。然而,其副作用是强烈的强度降低。因此,双晶体被安装在一个可伸缩的支架上,以便能够将其 "打开 "或 "关闭"。
Rocking curves of a 6H SiC crystal measured along a line on spots of 8 mm distance
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