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PRODUCTS CENTER当前位置:首页产品中心19461111伟德 SKYSCAN 2214 CMOS版SKYSCAN 2214 CMOS版三维X射线显微镜 (XRM)SKYSCAN 2214
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该仪器既可以对直径大于300毫米的物体的内部微观结构进行扫描和三维无损重建,也可以对小样品进行亚微米级的分辨。
另外,该系统配备了一个<0.5微米大小的 "开放型 "透射X射线源和一个金刚石窗口。它可容纳四个X射线探测器,具有极大的灵活性。自动可变的采集几何和相位对比度增强可以在相对较短的扫描时间内实现优秀质量。
三维X射线显微镜(XRD)SKYSCAN 2214 CMOS将为用户免费提供全套的3D Suits软件套装。这个的软件套装涵盖了GPU加速重建、二维/三维形态学分析以及表面和体积渲染可视化等用户所需的全部功能。并且该软件套装可以进行免费升级。
三维X射线显微镜(XRM)SKYSCAN 2214采用最新一代的开放型X光源。该光源可达到优于500 nm的实际空间分辨率,高达160 keV的X光能量,以及高达16 W的功率。因为拥有极其简单的预先配准的灯丝更换程序,该光源几乎不需要维护。
SKYSCAN 2214拥有带金刚石窗口的开放型(泵式)纳米焦点X光源。它能产生峰能量从20 kV到160 keV不等的X光束,并提供有两种类型的阴极。钨(W)阴极适用于最高达到160 kV的完整加速电压范围,光斑尺寸最小达到800 nm。六硼化镧(LaB6)阴极适用于从20 kV到100 kV的加速电压,X光束的光斑尺寸可以小于500 nm,从而确保在成像和三维重建中达到最高分辨率。JIMA分辨率测试卡显示,它能轻松解析出500 nm的结构。为了确保焦斑尺寸和发射源的位置能够长期保持稳定,X光源还能配备水冷系统,该系统含有一个循环装置,能精准地控制冷却液体的温度以维持温度的稳定。
● 探测器
三维X射线显微镜(XRM)SKYSCAN 2214最多可以配备4个X射线探测器,以获得最大的灵活性:其中包括三台具有不同分辨率和视场平衡的科研及sCMOS探测器,以及一台平板探测器以覆盖超大视场。用户只需点击一下鼠标,就可以进行探测器间的任意切换。
使用小像素的大尺寸CMOS探测器可以将高分辨率的三维成像扩展到大型物体。内置探测器的灵活性使其能够根据物体的大小和密度来调整视场和空间分辨率。从感兴趣的体积进行*的重建,从而在不影响图像质量的情况下对大型物体的选定部分进行局部高分辨率扫描。
此外,通过使用偏移的探测器位置和垂直方向的物体移动,可以分别增加水平和垂直的视场。之后,3D.SUITE软件自动将不同的图像拼接在一起,并对偏移和可能的强度差异进行准确的补偿。
随着研究课题和分析需求的发展,探测器可以在系统使用期内的任何时间点进行现场升级。
三维X射线显微镜(XRM)SKYSCAN 2214 CMOS Edition拥有高度精准的样品台,支持直径达到300 mm和重量达到20 kg的物体。空气悬浮式旋转马达能以非常高的准确度精准地旋转物体位置,集成的精密定位平台能保证样品对准。
三维X射线显微镜(XRM)SKYSCAN 2214 CMOS Edition拥有一个很大的且使用方便的样品室,方便扫描大型物体和安装可选的试验台。它有足够的空间可供容纳原位试验台等外围设备。
Bruker的材料试验台可以进行最大4400 N的压缩试验和最大440 N的拉伸试验。所有试验台都能通过系统的旋转台自动联系到一起,而无需任何外接线缆。通过使用所提供的软件,可以设置预定扫描试验。
布鲁克的加热台和冷却台可以达到最高+80ºC或低于环境温度低30ºC的温度。和其它的试验台一样,加热和冷却台也不需要任何额外的连接,系统可以自动地识别不同的试验台。通过使用加热台和冷却台,可在非环境条件下检测样品,从而评估温度对样品微观结构的影响。
三维X射线显微镜(XRM)SKYSCAN 2214 CMOS Edition与DEBEN试验台兼容。借助自带的适配器,DEBEN试验台可以很容易地被安装到SKYSCAN 2214的旋转台上。
高低温原位试验台 | 力学拉伸/压缩原位试验台 | 兼容Deben样品台 |
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