原位高低温附件可以在材料合成过程中来观察材料结构变化，探索材料合成条件；也可以用来探测充放电到某个电位下材料随温度变换而产生的相应的结构变化，这对探讨实际电池安全性产生的原因之一，即材料结构变化引起的安全问题是一种重要的手段；
科研支撑、变温物相分析、变温过程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞参数及动力学分析；分析、电池充放电物相分析、原位电化学反应物相分析。高分辨薄膜 X 射线衍射仪检测

项目

细则

收费

说明

Rocking Curve

单一图谱，30min 以内；若超 过 30min，延长时间按240元 /30min计，不足30min 按 30min计； 薄膜带衬底材料的薄膜或带 基材的镀层等原始形状，厚 度≤1mm，直径≤2cm

240元/样

1.长时间数据手机（大于5h）、复杂样品等特殊测试，价格需面议；

2.原位测试需提供测试方法

2Theta/Omega Scan

对称扫描单一图谱，30min 以 内；扫描时间大于 30min，延 长时间按240元/30min，不足 30min 按 30min 计

240元/样

2Theta/Omega Scan

不对称扫描单一图谱，30min 以内；扫描时间大于 30min， 延长时间按 240元/30min计，不足 30min 按 30min 计

300元/样

Skew Scan

不对称扫描单一图谱，30min 以内；扫描时间大于 30min， 延长时间按 240 元/30min计，不足 30min 按 30min 计

300元/样

XRR

单一图谱，30min 以内；扫描 时间大于 30min，延长时间按240 元 /30min计，不足30min 按 30min 计

300元/样

GID

单一图谱，30min 以内；扫描 时间大于 30min，延长时间按240 元 /30min计，不足30min 按 30min 计

300元/样

Phi Scan

Phi 扫描单一图谱，30min 以 内；扫描时间大于30min，延长时间按 240元/30min计，不足 30min 按 30min 计

300元/样

RSM

单点倒易空间 mapping 单一图谱，30min 以内；扫描时间 大于 30min，延长时间按240元/30min计，不足30min 按 30min 计

400元/样

低温测试

包含 2 个温度点，第二点后， 240 元/ 测试点；低温测试液氮另加30元/时

900元/样