布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以进行多晶X射线衍射仪检测。

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更新时间：2024-09-12

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D6 Phaser SKYSCAN 2214 CMOS版 D8

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多晶X射线衍射仪检测

项目	细则	收费	说明
单扫一张图谱	看d值，相对强度，不包括物相分析；每样每次长15min，延长时间按100元15min计，不足15min按15min计	/	1.长时间数据手机（大于5h）、复杂样品等特殊测试，价格需面议
晶胞参数测定	已知的纯物相，扫描时间≤30min；扫描时间超过30min，延长时间按200元/30min计，不足30min按30min计	/
晶粒尺寸测定	已知的纯物相，扫描时间≤30min；扫描时间超过30min，延长时间按200元/30min计，不足30min按30min计	/
高分子结晶度测试	已知的确定物相，扫描时间≤1h；扫描时间超过1h，延长时间按200元/30min计，不足30min按30min计	/
阶梯扫描法	/	/
物相半定量	仅限于两种已知物相，扫描时间≤1h；扫描时间大于1h，延长时间按200元/30min计，不足30min按30min计；多出物相，另加100元/相	/

多晶X射线衍射仪检测

布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！
高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰（注意不是一个衍射峰）的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度，布鲁克AXS公司向大家提供保证！
*的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率，而且大幅提高了设备的探测灵敏度。

伦琴实验室：400-100-9267 欢迎咨询

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