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PRODUCTS CENTER当前位置:首页产品中心高分辨率X射线成像系统Skyscan1275高分辨三维X射线显微成像系统
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借助高分辨三维X射线显微成像系统——Skyscan1275,我们可以直观观测到微孔隙的空间分布,并对连通性和渗透性、各类粘土矿物空间分布,混层粘土矿物混层比以及自生矿物空间分布等方面进行分析和计算。
?特点介绍:
♦保护样品:无需制备样品,无损三维重现
♦对样品的细节检测能力(分辨率)高达:4µm
♦大扫描样品直径:96mm; 大扫描样品长度:100mm
♦超快的测量速度:通常3-8分钟测完一个样品,快达80秒
♦*的一键式操作模式:自动识别样品大小、自动调整放大倍数、自动快速扫描、自动重建 以及自动体绘制得到样品的三维可视化图像
♦高强度微焦斑X射线光源:20-100kV连续可调,*免维护
♦快速、无失真 CMOS探测器:1944 x 1536像素(300万像素),高达26帧/秒的读取速度
♦基于细分驱动步进电机的四轴精密机械臂,用于样品的精准定位
♦样品腔内置500万像素彩色光学相机可更方便地实时观察样品位置,并随时保存图像(BMP, JPG 或 PNG格式)
♦二维/三维数据分析,面/体绘制软件实现三维可视化,终结果可输出到手机或者平板电脑上(iOS and Android),并导出STL文件用于3D打印
?地质样品
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