PHI 硬X射线光电子能谱仪，下一代透明发光材料使用直径约为10nm~50nm 的纳米量子点(QDs)，结合使用 XPS(Al Ka X射线)和 HAXPES(Cr Ka x射线)对同一微观特征区域进行分析，可以对 QDs 进行详细的深度结构分析。

PHI公司的PHI 710俄歇电子能谱仪是一台设计高性能的俄歇电子能谱（AES）仪器。该设备能分析纳米级特征区域,超薄薄膜和多层结构表界面的元素态和化学态信息。

飞行时间二次离子质谱仪PHI nano TOF3+，先进的多功能TOF-SIMS具有更强大的微区分析能力，更加出色的分析精度

PHI X射线光电子能谱仪 提供了一种全新的用户体验，仪器高性能、全自动化、简单易操作。 操作界面可在同一个屏幕内设置常规和高级的多功能测试参数，同时保留诸如进样照片导航和 SXI 二次电子影像精细定位等功能。

C60-40 离子源系统 是目前性能较高的C60光束，具有300纳米的光斑尺寸和高达1毫安的束流。从生物医学应用到聚合物科学和冶金，C60-40都可以做到这一点。得益于与其他C60离子束相同的均匀溅射，但由于更高的束能量，C60-40具有难以置信的精细斑点和更高的蚀刻率，是一种用于广泛应用的极其强大的分析工具。

lonoptika公司的C60-20 离子源系统是一种高性能的20kV离子束系统，用于高化学复杂性样品的SIMS分析。C60-20是一种功能强大，成本效益高的分析离子束系统，可以较大限度地利用SIMS分析。