少子寿命测试仪µPCD/MDP (MDPpro 850+)用于单晶硅锭、硅砖和硅晶圆片的生产和质量监控。用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池、钙钛矿等中的硅材料。

MDPmap单晶和多晶硅片寿命测量仪被设计成一个紧凑的台式非接触电学表征工具，用于离线生产控制或研发，在稳态或短脉冲激励（μ-PCD）下，在一个宽的注入范围内测量参数，如载流子寿命、光导率、电阻率和缺陷信息。自动化的样品识别和参数设置允许轻松适应各种不同的样品，包括外延层和经过不同制备阶段的晶圆，从原生晶圆到高达95%的金属化晶圆。

MDPlinescan在线少子寿命测试仪灵活的OEM少子寿命测试仪器，用于各种不同样品的少子寿命测量，从单晶硅砖到多晶硅砖，从生长的硅片到不同层或金属化的硅片的过程控制。标准的软件接口，便于连接到许多处理或自动化系统。

MDPspot少子寿命测试仪低成本桌面单点测量硅片或晶砖，用于在不同制备阶段表征各种不同的硅样品，无需内置自动化。可选手动操作的z轴厚度高达156毫米的硅砖样品，高达156毫米硅砖，结果可视化的标准软件。

弗莱贝格的MDPpro（MDPpro晶圆片/晶锭寿命检测仪--少子寿命）系列主要用于测量少子寿命、光电导率、电阻率和样品平整度及p/n检查等，其非接触式检测和无损成像（μPCD /MDP（QSS））的设计*符合SEMI标准PV9-1110。这也使得该仪器在晶圆切割、炉内监控和材料优化等领域被广泛应用。可以说，MDPpro是晶锭生产商以及晶体炉技术生产商d的标准仪器。

MDPmap（MDPmap晶圆片寿命检测仪--少子寿命测试）是一个紧凑的离线台式检测设备，主要被设计用于生产控制或研发、测量少子寿命、光电导率、电阻率和缺陷信息等参数。其工作状态为稳态或短脉冲激励下（μ-PCD）。