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MDPinline(MDP高速晶圆片在线面检测仪--少子寿命检测)是一种用于快速定量测量载流子寿命并集成扫描功能的检测仪。通过工厂安装的传送带将晶圆片移至仪器,在不到一秒的时间内,就可以“动态”测量出晶圆图。该仪器可为每个晶圆片提供完整的拓扑结构,有效提高了生产线的成本效益和效率。且其实时质量检测可以提高和优化诸如扩散和钝化等处理步骤。
德国弗莱贝格仪器的MDPinline ingot(MDP晶锭在线面扫检测仪--进口少子寿命测试)系统是快速多晶硅晶锭电学参数特性测量工具。它是专为高通量工厂的单块晶锭测试而研发的。每块晶锭可以在不到一分钟时间里测量其四面。所有的图谱(寿命,光电导率,电阻率)都可以同时进行测量。
德国Freiberg Instruments的MDPicts(MDP微波探测光诱导电流瞬态谱仪--少子寿命),非接触且无损伤,用于温度依赖的少数载流子寿命测量以及半导体的界面陷阱和体陷阱能级的电性能表征。MDpicts将在半导体材料的基础研究与开发领域取得广泛的应用。
台式PID(Potential Induced Degradation)潜在诱导退化测试仪,用于c-Si太阳能电池和光伏迷你组件的售前和安装后质量检测。
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