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当前位置:首页新闻资讯欢迎来访 ! 布鲁克桌面式X射线衍射仪——D6 PHASER即将抵达束蕴仪器
引言
布鲁克作为行业先进的科学仪器制造商,在x射线衍射仪一直处于重要地位。
2009年,布鲁克发布了D2 PHASER X射线衍射仪,一经发布便在用户群体中引起强烈反响。
而D6 PHASER X射线衍射仪,即D2 PHASER的升级版,在去年正式推出之时,立马受到了行业内外人员的高度关注。
其作为一款台式X射线衍射仪,不仅大大拓展了衍射仪除粉末衍射以外的分析潜能,还补充了传统台式衍射仪与落地式衍射仪之间的功能性差距。
经过不懈努力,布鲁克D6这台设备实机将于下周一抵达束蕴仪器,将安装在公司旗下伦琴实验室内,并在伦琴“驻扎"一段时间。
欢迎各位客户来访参观讨论、学习交流!
束蕴仪器(上海)有限公司,位于上海市G60科创云廊。束蕴仪器凭借与德国布鲁克(BRUKER)、国际衍射数据中心(ICDD)、德国Freiberg等国际有名实验室分析仪器品牌的战略合作,迅速成为业界有名仪器供应商。成交的客户数量超过500个,销售额1亿+。
伦琴实验室则是束蕴旗下的第三方实验室,是国内一家专业从事X射线相关分析与开发的机构。伦琴实验室致力于更深入的X射线应用和输出专业性更强的解决方案。
针对各类材料完成从晶体结构到电子结构的全面解析,以及从埃到毫米的跨尺度表征。
仪器介绍
显而易见,X射线衍射仪是材料学相关领域基础且不能缺少的分析手段,具备无损、样品制备简单等优势。X射线衍射仪一般主要由X射线光源部分、测角仪、样品台、光路系统、探测器五大部分组成。
Bruker在已有的D2 Phaser的基础上,结合具备优异性能的LYNXEYE系列能量色散阵列探测器的优势,在桌面衍射仪这个平台上大胆的尝试了新的结构和运动逻辑,强势推出了一款跨界的桌面衍射系统——D6 Phaser。
产品亮点总结:
Ⅰ.功率可选的X射线光源
D6 Phaser提供了两种可选的X射线光源功率, 600W/1200W,测试强度可媲美大型落地式机型,满足不同应用需求。
Ⅱ.高精度的测角仪
D6 Phaser保证在刚玉标样全谱范围内(20-140°),任何一个衍射峰的测量误差不超过±0.01°,与大型落地式机型旗鼓相当。
Ⅲ.多功能平台拓展
D6 Phaser同时还可以实现以前只有在大型落地式机型上的多功能测试,如:
◇ 薄膜掠入射测试(GID)
◇ 薄膜反射率测试(XRR)残余应力测试
◇ 织构测试
◇ 毛细管透射测试
产品优势
01
从功能性的角度出发,上一代桌面式衍射仪D2 PHASER由于空间大小的限制,只能完成粉末、块体、常规薄膜等样品的分析测试,无法实现更多功能的拓展;
而D6 PHASER则打破了桌面式衍射仪功能上的限制,如:
①薄膜掠入射(GID)测试:利用平行光路和可以调整样品高度的Z轴样品台的配合;
②应力&织构测试:采用点焦斑和具备Chi和Phi方向运动的样品台的配合;
③原位变温测试:利用原位变温的样品仓来实现;
④毛细管透射:需毛细管样品台和透射光学的配合等,这些应用的拓展将在薄膜材料、金属材料、药物、陶瓷材料等领域实现重要的功能延升,实现桌面式衍射仪的多功能平台。
02
从基本配置选择上,D6 PHASER也提供更多的适用性:
①光管功率:提供了三种选择,用户可根据应用来选择更适用的匹配;
②自动进样装置:D6 PHASER提供的12位的自动进样装置供用户选择,很大程度上节省了人工成本;
③水冷的选择:D6 PHASER除了自身的内部水冷以外,用户亦可选择外接等等,更加追求并支持不同用户不同需求的定制化方案。
03
此外,D6 PHASER也是秉承了布鲁克的传统优势。
θ/θ扫描方式的高精度测角仪,给您准确的角度位置,为您的物相定性打下基础;同样可搭载LYNXEYE全系的能量色散阵列探测器,相比传统的阵列探测器多了能量分辨的功能,很大程度上免除了噪音和背景对数据的干扰,提升了信噪比和峰背比,为您的全谱拟合、结构精修、无标定量等保驾护航。
应用实例
D6 PHASER二维衍射实现方法D6 PHASER提供了反射几何下的两种二维衍射实现方法,Bragg-2D和Phi-1D扫描方法:
Bragg-2D方法中不需要移动样品,相反地,通过选择较大的入射光路发散度,将样品大面积暴露在X射线束下,并在Δϖ vs. 2Theta空间中可视化展现来自不同晶粒的衍射信号。
Phi-1D方法则需要使用旋转样品台,使用较窄的X射线束照射样品,探测器定位在特定的2Theta峰位置,通过旋转样品同时连续探测器快照拍摄来对晶粒进行成像。相应的X射线衍射仪样品台配置如图1所示。
图1. D6 PHASER固定样品台(左)用于Bragg2D衍射,旋转样品台(右)用于Bragg2D和Phi-1D二维衍射
例一
图2显示了粗晶粒粉末样品的二维衍射图,包含大量的不连续斑点。在常规的一维粉末衍射测量中,衍射信号将沿着衍射线进行积分,用户不会意识到样品粒度是不均匀的。而现在得益于快速的二维衍射测量,用户认识到在进行定量的一维XRD测量之前,样品应该被更细的粉碎。
图2. DIFFRAC.COMMANDER界面展示粗糖样品的Phi-1D扫描
图像的水平轴对应于Phi旋转,而垂直轴显示探测器快照。数据采集使用D6 PHASER 600W, Co靶,K-beta滤波器,2.5°Soller准直器,可变发散狭缝(恒定开口,0.25 mm),无空气散射屏。使用LYNXEYE-2探测器进行连续phi扫描,步长0.9度,曝光时间1秒,总扫描时间401秒,探测器达到 2Theta开口4.97°。
例二
第二个例子(图3)展示了小晶粒的优先取向情况。垂直线显示了较宽的强度调制,然而对于随机取向的材料来说,强度应该是恒定的。此外,衍射信号具有不同的宽度,表明存在微观应变。对于该测试铝箔,只有通过样品的不同取向测试才能获得更好的平均信号。相对应地,在测量粉末样品时,在样品制备过程中应尽量重新定向晶体使其更加取向随机,或者用较小的接触压力将粉末压实。
图3. DIFFRAC.EVA软件二维展示使用Co特征X射线测量的轧制铝板样品的Phi-1D扫描图谱
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