高分辨X射线显微镜是X射线成像术的一种，也是显微成像技术，即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等)，但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出发的。宏观成像与微观成像有相通之处，如衬度原理、设备的主要组成部件等，但也有区别。
高分辨X射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的，遵从几何光学原理，其关键部件是成像和放大作用的光学元件，在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短，在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1，故其成像放大元件不能用玻璃透镜，一般用波带片。
此外，它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像，同样要求有强光源及像探测器。对光学显微镜，一般用肉眼观察，故常加一目镜起进一步放大的作用。在高分辨X射线显微镜中当然不能用眼晴直接观察，可用CCD 等面探测器探测。显微镜的重要性能指标两者是相似的，有放大倍数、分辨力、像差等几个。X射线显微镜的一般构造:从强光源来的光束先经聚焦元件( 在此为毛细管透镜聚焦) 使光斑尺寸变小、亮度加大，然后射到样品上，透过样品的光，再经成像放大元件( 在此为波带片) 而到达探测器( 在此为闪烁体加CCD)。成像波带片和探测器之间有一个Au 位相补偿环，在相衬成像时用。如吸收衬度成像，可移走。
更新时间：2022-11-23
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